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产品介绍
GL16光纤端面几何形状测量仪器使用(yòng)非常简单，能(néng)够测量单芯和多(duō)芯接头的端面几何形状，并对其成像。它采用(yòng)非接触式白光扫描干涉技术(SWLI)，能(néng)够提供高准确度、高重复性和高可(kě)靠性的光纤接头测试，尤其适合根据IEC或Telcordia标准进行的合格/不合格测试。系统既可(kě)以通过触摸屏进行本地控制，又(yòu)可(kě)以通过基于浏览器的应用(yòng)程序实施遠(yuǎn)程操作，易于集成到生产車(chē)间。
所有(yǒu)系统组件完全集成在封闭的外壳中。宽带宽570 nm LED光源配合迈克尔逊干涉物(wù)镜使用(yòng)，测量间隔高度变化高达35 μm的相移。压電(diàn)位移台相对于接头移动干涉物(wù)镜，并使用(yòng)高分(fēn)辨率相机收集所产生的干涉图案。然后生成接头表面的3D高度图，并利用(yòng)2.2 µm的横向分(fēn)辨率和1.1 nm的高度分(fēn)辨率计算光纤几何形状参数。白光干涉法还能(néng)够表征凹陷或突出的光纤，而这一点在使用(yòng)单色干涉仪时可(kě)能(néng)会被忽略。
附带的GL16M4 MT型安装夹具有(yǒu)助于实现一次8秒(miǎo)测量12芯每行的插芯中max.72根光纤。换出附带的夹具，GL16还可(kě)测量其他(tā)光纤类型和接头类型。请根据待测接头类型和光纤数量在下方选择合适的安装组件。
性能(néng)特点
- 3D干涉仪，用(yòng)于测量端面几何形状
- 非接触式闭环压電(diàn)白光扫描干涉技术(SWLI)
- 完全符合IEC和Telcordia等行业规范
- 兼容所有(yǒu)主要的接头类型(请看下表)
- NIST可(kě)追踪标准，用(yòng)于放大倍率和偏转位移台的校准
- 集成的触摸屏上提供完整的扫描信息，测量时间≤8 s(典型值)
- 基于浏览器的应用(yòng)程序，支持遠(yuǎn)程访问操作
- 导出為(wèi).CSV格式的数据，SQL数据库或扫描报告
可(kě)选功能(néng)与配件
技术参数
产品尺寸
产品参数
