产品中心
产品分(fēn)类
产品分(fēn)类
品牌标签
品牌标签
产品介绍
Andor 的 PV Inspector NIR 相机旨在為(wèi)在線(xiàn)電(diàn)致发光和光致发光检测提供超快的速度和灵敏度性能(néng)，在 800 nm 以上提供 > 90% 的 QE，并结合了边缘抑制技术，以大限度地减少 NIR 中的边缘效应。1024 x 1024 阵列拥有(yǒu)高分(fēn)辨率 13 μm 像素，并受益于可(kě)忽略不计的暗電(diàn)流和低至 -70°C 的热電(diàn)冷却。PV Inspector 通过高达 5 MHz 的快速读出速度提供高的吞吐量，并结合独特的“双曝光环模式”，允许快速曝光切换。可(kě)锁定的 USB 2.0 端口可(kě)确保安全的抗震连接。
PV Inspector 增强的 NIR 灵敏度和独特的高速模式能(néng)够以超过每秒(miǎo) 1 个電(diàn)池的速率进行双重曝光 EL 检测，非常适合在纵梁和電(diàn)池分(fēn)选机中发现的高通量 PV 检测系统。快速的双曝光成像允许在不同的偏差水平下对细胞进行定量测量。
性能(néng)特点
- QE > 90% 超过 800 nm，针对 NIR 进行了优化 - 近红外波段非常高的探测器灵敏度
- 5 MHz 和 3 MHz 读出速度 - 用(yòng)于高吞吐量電(diàn)池检测的快速帧速率
- 双曝光环模式 - 用(yòng)于曝光时间切换的独特采集模式
- 条纹抑制技术 - 将 NIR 中的标准具效应降至更低，优化光學(xué)分(fēn)辨率
- UltraVac - 对持续的真空完整性和保持冷却和 QE 性能(néng)至关重要
- 单增透膜窗口设计 - 近红外优化减反射涂层
- 热電(diàn)冷却至 -70°C（风冷） - 消除暗電(diàn)流检测限的关键
- 可(kě)锁定 USB 连接 - 确保安全、抗振连接
- 上電(diàn)冷却 - PV Inspector 无需连接 PC 即可(kě)保持稳定的热電(diàn)冷却
- 增强型基線(xiàn)夹 - 对于动态测量的定量准确性至关重要。
选型指南
可(kě)选功能(néng)与配件
技术参数
- 活动像素：1024 x 1024
- 传感器尺寸：13.3 x 13.3毫米
- 像素大小(xiǎo)（宽x高）：13µm x 13µm
- 图像面积：13.3 x 13.3 mm，填充系数為(wèi)百分(fēn)之100
- max读出速率：5 MHz
- 风冷lowest温度（环境温度25°C）：-70ºC
- 帧速率：highest 4.4 fps（全帧）
- 数字化：16位
- 系统窗口类型：单层AR涂层UV级熔融二氧化硅（NIR优化）
- 接口：可(kě)锁定USB 2.0
- 镜头支架：C型支架（可(kě)根据要求提供其他(tā)支架）
- 像素读出速率：5，3 MHz
- 線(xiàn)性度：优于99%
- 垂直时钟速度：4.25至64.25µs（软件可(kě)选）
- 双曝光周期时间：500ms
- 产地：英國(guó)
产品参数
