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评估半导體(tǐ)晶片、彩色玻璃和彩色丙烯酸树脂产品等低相位差样品的二维分(fēn)布应变。1 分(fēn)钟内可(kě)评估约 50 x 50 毫米的样品。只需放置要测量的物(wù)體(tǐ)并点击测量按钮。通过内置摄像头捕捉的信息即可(kě)获得测量结果。由于无需测量人员进行判断，因此消除了由判断引起的测量误差。它能(néng)够对半导體(tǐ)晶片、有(yǒu)色或透明产品、残余应力和裂缝进行应变评估，而传统的偏振镜是无法测量这些应变的。二维分(fēn)布图上的横截面图形、任意设置區(qū)域的直方图、二维分(fēn)布图的三维显示、测量结果的 csv 存储和图像存储。这些功能(néng)都包含在软件中。它们对分(fēn)析评估结果很(hěn)有(yǒu)用(yòng)。采用(yòng)高亮度 LED 作為(wèi)光源。这减少了与更换光源相关的维护时间和运行成本。
全自动测量减少了测量人员的工作量和测量误差
能(néng)够对半导體(tǐ)晶片、有(yǒu)色或透明产品、残余应力和裂缝进行应变评估
使用(yòng)软件分(fēn)析工具
寿命長(cháng)、省電(diàn)
元件：主机、PC、電(diàn)缆
附件：主机盖
产地：日本
检测方法：近红外旋转分(fēn)析法
测量范围（约）：0～150 nm（延迟）
测量區(qū)域尺寸：（约）50×50 mm
测量物(wù)體(tǐ)放置空间（高度）：Max 160 mm
尺寸：宽 300 × 深 353 × 高 540 mm
重量：22 kg
光源：高亮度 LED
電(diàn)源：AC 100～240 V 50/ 60 Hz
直流输入：24 V 1.6 A
操作系统：Windows10 Pro (64bit)
系统语言：日语/ 英语
对半导體(tǐ)晶片、有(yǒu)色或透明产品、残余应力和裂缝进行应变评估
