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Semiconsoft薄膜厚度测量系统MProbe Vis

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产品介绍

MProbe Vis薄膜测量系统是紧凑且多(duō)功能(néng)的台式系统。它可(kě)以测量不同基板上10nm – 150μm厚度范围的半透明薄膜。而且,它经济且易于使用(yòng)。MProbe Vis(X) 的生产版本设计用(yòng)于承受振动并使用(yòng) LAN 连接 24/7 全天运行。它可(kě)用(yòng)于在線(xiàn)和OEM应用(yòng)。它与洁净室环境兼容。MProbe20 VisX系统是MProbe20 Vis系统的一个版本,在更長(cháng)的波長(cháng)(>700nm)下具有(yǒu)更高的灵敏度。

性能(néng)特点
  • 经济且易于使用(yòng)
技术参数
  • 产地:美國(guó)
  • 波長(cháng)范围(可(kě)用(yòng)):400-1000nm(典型校准范围:380-1050nm)和VisX的450nm -1050nm
  • 波長(cháng)分(fēn)辨率:< 1nm,20μm狭缝(整个光谱均匀)
  • 厚度范围 : 10nm – 150 μm
  • 精度/重复性:<0.01nm 或 0.02%
  • 精度:<1nm或0.2%
  • 测量光斑尺寸:< 1mm(标准)
  • 最小(xiǎo)数据采集时间:10 μs
  • 光源:5W TH灯,使用(yòng)寿命10000小(xiǎo)时(可(kě)选:20W TH灯,使用(yòng)寿命2000小(xiǎo)时)
  • 通信接口:USB和1Gb LAN
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