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InframetSWIR成像仪ST 200

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  • 品牌名称:Inframet
  • 规格型号:ST 200
产品介绍

由于多(duō)种原因,SWIR成像仪(短波長(cháng)红外)是监视電(diàn)光成像仪的重要组成部分(fēn)。首先,InGaAs技术的进步使设计成本相对较低的SWIR成像器成為(wèi)可(kě)能(néng)。其次,InGaAs成像仪非常灵敏,即使在漆黑的夜晚也可(kě)以生成观察到的风景图像。第三,与在可(kě)见/近红外波段工作的電(diàn)视摄像机相比,SWIR成像仪更不容易受到恶劣的大气条件的影响。第四,即使使用(yòng)比用(yòng)于热像仪设计的光學(xué)器件小(xiǎo)得多(duō)的光學(xué)元件构建,SWIR成像器也可(kě)以生成高分(fēn)辨率图像。 SWIR成像器通常使用(yòng)观察到的目标反射的辐射来创建这些目标的图像,类似于電(diàn)视摄像机。 SWIR成像仪还可(kě)以使用(yòng)观察到的目标发出的热辐射来创建这些目标的图像,例如热成像仪。由于具有(yǒu)这些功能(néng),可(kě)以使用(yòng)测试電(diàn)视摄像机的方法或测试热像仪的方法来测试SWIR。 InGaAs FPA的参数也可(kě)用(yòng)于表征SWIR成像仪。

Inframet建议通过以下三种方式来表征SWIR成像仪:a)测量電(diàn)视摄像机的典型参数(分(fēn)辨率,最小(xiǎo)可(kě)分(fēn)辨对比度,MTF,失真,FOV,灵敏度,SNR,等效噪声输入,固定模式噪声,不均匀性),b)测量热成像仪的典型参数(MRT,MDT,MTF,NETD,FPN,不均匀性,畸变,FOV),c)测量InGaAs FPA模块的参数(平均检测度,等效噪声辐照度,动态范围)。

ST测试系统通常是可(kě)变目标测量系统,它使用(yòng)一系列不同的目标将其图像投影到测试的SWIR成像器的方向。成像器会生成投影图像的变形副本。成像仪生成的图像的质量由观察员或软件进行评估,并测量SWIR成像仪的重要特性。ST测试系统由反射式离轴准直仪,宽带光源,中温黑體(tǐ),電(diàn)动转轮,一组目标,带通滤波器,PC,图像采集卡和测试软件组成。

产品参数

准直器

准直器类型:反射型,离轴

通光孔径:从100 mm到200 mm

焦距:取决于型号

光谱范围:至少0.4-15m

空间分(fēn)辨率:不小(xiǎo)于160 lp / mrad

涂层:镀铝–准直镜,平金镜

视场:取决于型号

光源

孔径:40 mm

光源类型

双重:1)多(duō)色卤素型

2)单色LED

卤素光谱带:400-2200 nm

卤素色温:在450-1700nm波段约2856K

卤素动态:0.02 cd / m2-3000 cd / m2

卤素调节方法:光机械,连续

LED波長(cháng):1060nm

LED光源动态:10000:1

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